lCMOS成像光電檢測

采用頂部成像技術，無時差同時采集96孔熒光信號，檢測速度快，單通道每次檢測僅需1秒。

長壽命LED光源：采用免維護長壽命LED光源，無需定期更換光源，光強分布均勻。

激發通道和檢測通道采用獨立濾光片輪，濾光片切換迅速，可自由組合通道，無需擴展通道即可應對多重檢測實驗。

采用光纖傳導，提高熒光信號強度，降低光傳導損耗，消除光路的邊緣效應。

l精確的溫控技術

多分區熱循環模塊精確獨立控溫，具有模塊溫度補償技術，可設置不同的反應條件，反應速度快，溫度均勻度高，升溫速度快。

熱蓋可調節，具有高密封性，避免試劑揮發。

具備耗材放置檢查功能，自動彈出樣品倉設計，并擁有防夾手設計，提高使用安全性。

l人性化軟件

實時監控，自動判別并計算陰陽性結果，滿足定性/定量、基因分型、等溫擴增、熔解曲線等多種分析模式。

Windows操作系統的10.1英寸觸摸屏，即可完成設置、檢測、分析、保存等操作，操作簡便快捷，無需連接PC電腦，節約空間，配置USB、網線接口、方便數據導出，更加靈活。

全新的Ct值算法，利用多階導數特征點線性擬合方法，計算Ct值，無需參比染料，優化實驗流程，提高了實驗效率。

光路ROI區域識別算法，可實現儀器自動ROI校準及光纖位置檢查。

適用離心管

496：0.2mL96孔板，496A：0.1mL96孔板，單管，8聯管(透明管、白管、磨砂管)

樣品體系量

10～100μL

通道數

4通道

通道參數

F1:FAM、SYBR Green Ⅰ等； F2:HEX、JOE、VIC等； F3:ROX、TEXAS-RED; F4:Cy5、Quasar-670;

線性范圍

10^0～10^10 Copies/μL

最小檢測范圍

1 Copy

激發光源

高功率白光LED

檢測元件

高性能CMOS

Ct重復性

CV≤1%

樣本線性（Ct）

|r|≥0.999

溫度范圍

4～99.9℃

控溫模式

模塊控制（Block）/試管控制（Tube）

平均升溫速率

3.5℃/s

平均降溫速率

2.5℃/s

溫度均勻性

±0.2℃@95℃

溫度準確度

±0.15℃

控溫精度

0.1℃

熔解溫度

最小區分0.1℃

梯度模式

6梯度控溫

梯度溫度范圍

1-40℃

熱蓋溫度

30～110℃